书目详细信息
： X射线分析方法
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-077697-6:CNY68.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | X射线分析方法/.巫瑞智, 王振强编著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2024 |
| 载体形态项： | 207页:;+图:;+24cm |
| 一般附注： | 科学出版社“十四五”普通高等教育本科规划教材 |
| 提要文摘： | 本书介绍X射线物理学基础、X射线衍射方向和强度、多晶体X射线衍射分析等基本理论知识, 在此基础上介绍当前科学研究中经常使用的各种X射线技术, 包括利用X射线衍射技术分析材料的物相、残余应力、晶粒尺寸、位错密度、织构等, 以及利用X射线光电子能谱分析材料表面元素种类、含量。此外, 本书还介绍近年来基于电子计算机断层扫描 (computed tomography, CT) 技术发展起来的三维 X 射线显微镜分析方法。 |
| 题名主题： | X射线衍射分析 高等教育 教材 |
| 中图分类： | O657.39 |
| 个人名称等同： | 巫瑞智 编著 |
| 个人名称等同： | 王振强 编著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20241114 |