书目详细信息
： 数字集成电路功耗与测试综合优化
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-302-45560-8:CNY46.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字集成电路功耗与测试综合优化/.孙强著 |
| 出版发行项： | 北京:,清华大学出版社:,2016 |
| 载体形态项： | 208页:;+图:;+23cm |
| 提要文摘： | 在数字集成电路领域中, 随着VLSI集成度和时钟频率的不断提高, 使得低层次综合效率越来越低, 测试越来越困难, 电路功耗问题也越来越突出。研究表明, 高层次综合与设计技术能最大限度地解决上述难题, 优化设计目标。本书运用高层次综合与设计技术, 对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究, 介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法, 推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。 |
| 题名主题： | 数字集成电路 研究 |
| 中图分类： | TN431.2 |
| 个人名称等同： | 孙强 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20170412 |