ISBN/价格: | 978-7-03-029105-9:CNY50.00 |
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作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 材料分析技术/.(新) Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar著/.刘东平 ... [等] 译 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2010 |
载体形态项: | 265页:;+图:;+24cm |
提要文摘: | 本书共十一章,内容包括接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜、X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、色谱分析、红外光谱及紫外一可见光谱等。 |
题名主题: | 工程材料 分析方法 研究 |
中图分类: | TB3 |
个人名称等同: | 张善勇 著 |
个人名称等同: | 李 著 |
个人名称等同: | 库马尔 著 |
个人名称次要: | 刘东平 译 |
记录来源: | CN 浙江省新华书店集团公司 20101104 |